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  • TH2836同惠高頻LCR數(shù)字電橋
    TH2836同惠高頻LCR數(shù)字電橋

    TH2836同惠高頻LCR數(shù)字電橋的自動平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測試儀器,其0.05%的基本精度、最快達5.6ms的測試速度、4Hz-8.5MHz的頻率范圍。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響,將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴展了十倍。

    更新時間:2024-06-26
  • TH2838精密LCR數(shù)字電橋
    TH2838精密LCR數(shù)字電橋

    TH2838精密LCR數(shù)字電橋是采用的自動平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測試儀器,其0.05%的基本精度、最快達5.6ms的測試速度、20Hz-2MHz的頻率范圍及高達1GΩ的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的測量要求,特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測量。

    更新時間:2024-06-26
  • TH2839同惠阻抗分析儀
    TH2839同惠阻抗分析儀

    TH2839系列同惠阻抗分析儀采用阻抗測量范圍較寬的自動平衡電橋技術(shù),其0.05%的基本精度、20Hz—10MHz的頻率范圍可以滿足元件與材料的測量要求,是電子元器件設(shè)計、檢驗、質(zhì)量控制和生產(chǎn)測試的強有力工具。

    更新時間:2024-06-26
  • TH2839A同惠阻抗分析儀
    TH2839A同惠阻抗分析儀

    TH2839系列同惠阻抗分析儀采用阻抗測量范圍較寬的自動平衡電橋技術(shù),其0.05%的基本精度、20Hz—10MHz的頻率范圍可以滿足元件與材料的測量要求,是電子元器件設(shè)計、檢驗、質(zhì)量控制和生產(chǎn)測試的強有力工具。

    更新時間:2024-06-26
  • TH2840A精密LCR數(shù)字電橋
    TH2840A精密LCR數(shù)字電橋

    TH2840系列精密LCR數(shù)字電橋是常州同惠電子采用了新一代技術(shù) 研制成功的新一代LCR數(shù)字電橋,創(chuàng)新性的采用了雙CPU架構(gòu)、 Linux底層系統(tǒng)、10.1寸電容式觸摸屏、中英文操作界面、內(nèi)置使 用說明及幫助等新一代技術(shù),解決了以往LCR測試速度慢、顯示單 一、操作繁瑣等缺陷。

    更新時間:2024-06-26
  • TH2840B精密LCR數(shù)字電橋
    TH2840B精密LCR數(shù)字電橋

    精密LCR數(shù)字電橋 10.1寸觸摸屏、1280*800分辨率,Linux系統(tǒng)、中英文操作界面,支持鍵盤、鼠標、LAN接口,帶來的是無以倫比的操作便捷 性。

    更新時間:2024-06-26
  • TH2851-1301精密阻抗分析儀
    TH2851-1301精密阻抗分析儀

    1精密阻抗分析儀 快達2.5ms的測試速度、及高達40MΩ的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的測量要求,特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測量。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響,將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴展了十倍。

    更新時間:2024-06-26
  • TH2851-080阻抗分析儀
    TH2851-080阻抗分析儀

    精密阻抗分析儀快達2.5ms的測試速度、及高達100MΩ的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的測量要求,特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測量。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響,將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴展了十倍。

    更新時間:2024-06-26
  • TH2851-050阻抗分析儀
    TH2851-050阻抗分析儀

    阻抗分析儀 快達2.5ms的測試速度、及高達40MΩ的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的測量要求,特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測量。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響,將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴展了十倍。

    更新時間:2024-06-26
  • TH2851-030阻抗分析儀
    TH2851-030阻抗分析儀

    阻抗分析儀 快達2.5ms的測試速度、及高達40MΩ的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的測量要求,特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測量。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響,將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴展了十倍

    更新時間:2024-06-26
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