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阻抗分析儀

  • 產(chǎn)品型號:TH2851-080
  • 更新時間:2024-06-26

簡要描述:精密阻抗分析儀快達(dá)2.5ms的測試速度、及高達(dá)100MΩ的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的測量要求,特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測量。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響,將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。

產(chǎn)品詳情
  • 精密阻抗分析儀簡介

  •    TH2851系列阻抗分析儀是常州同惠電子采用當(dāng)前先進(jìn)的自動平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測試儀器,為國產(chǎn)阻抗測試儀器的最新高度。

       TH2851系列阻抗分析儀改變了傳統(tǒng)國產(chǎn)儀器復(fù)雜繁瑣的操作界面,基于Windows10操作系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)了全電腦化操作界面,讓測試更智能、更簡便。

       TH2851系列阻抗分析儀也超越了國外同類儀器120MHz的頻率瓶頸;解決了國外同類儀器只能分析、無法單獨(dú)測試的缺陷;中英文操作界面也解決了國外儀器僅有英文界面的尷尬;采用單測和分析兩種界面,讓測試更簡單。

       快達(dá)2.5ms的測試速度、及高達(dá)100MΩ的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的測量要求,特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測量。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響,將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。


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    A.  高精度


    寬帶自動調(diào)零型自動平衡電橋技術(shù)的應(yīng)用,得以在10Hz-130MHz頻率、25mΩ-40MΩ的阻抗范圍內(nèi)都能達(dá)到理想的10%測量精度,其中最高精度達(dá)0.08%,遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于射頻反射測量法的阻抗分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀的精度。

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    B.  高穩(wěn)定性和高一致性

    下圖是在速度5、測試頻率1MHz,測量100Ω電阻的曲線,由下圖可見其軌跡噪聲≦0.003%(≦±0.0015Ω)

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    C.  高速度

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    D.  10.1寸大屏,四種測量參數(shù),讓細(xì)節(jié)一覽無遺

    10.1寸觸摸屏、1280*800分辨率,Windows10系統(tǒng)、中英文操作界面,支持鍵盤、鼠標(biāo)、LAN、VGA/HDMI接口,帶來的是無以倫比的操作便捷性。

    大屏幕帶來更多的好處是,可以把所有測試參數(shù)及分選參數(shù)、分選結(jié)果、功能選擇等參數(shù)放置在同一屏幕,而且看起來絕不擁擠和雜亂,同時可以顯示四種測量參數(shù),四種測量參數(shù)任意可調(diào)。屏幕左邊的按鈕可以快捷選擇8套測試參數(shù)

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       E.  增強(qiáng)的列表掃描功能

    可以最多設(shè)置1601點(diǎn)的列表掃描,每個點(diǎn)可以單獨(dú)設(shè)置測試頻率、測試電壓、直流偏置等測試條件。

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    F.  強(qiáng)大的分析圖形界面


    最多通道可以最多顯示4條曲線。通道和曲線各有十四種分屏顯示方法

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    G.分段掃描功能

    分段掃描是在一個掃描周期內(nèi),設(shè)置不同的頻率分段進(jìn)行掃描,掃描時可設(shè)置不同的電平及偏置,掃描結(jié)果直接圖形顯示,用于需要快速篩選多個頻率段參數(shù)的掃描需求。

    如晶體諧振器需要測試標(biāo)稱諧振/抗諧振頻率以及其他雜散頻率,通過分段掃描功能可在特定頻率范圍內(nèi)掃描測量,無需掃描不相關(guān)頻率。

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    H.強(qiáng)大的光標(biāo)分析能力

    TH2851系列精密阻抗分析儀具有強(qiáng)大的光標(biāo)分析能力,可以通過光標(biāo)實(shí)現(xiàn)如下功能:

    1. 讀取測量結(jié)果的數(shù)值(作為絕對數(shù)值或者相對于參考點(diǎn)的相對值)

    2. 查找曲線上的特定點(diǎn)(光標(biāo)查找)

    3. 分析曲線測量結(jié)果,計算統(tǒng)計數(shù)據(jù)

    4. 使用光標(biāo)值修改掃描范圍以及縱坐標(biāo)縮放

    TH2851 可以在每條曲線上顯示 10 個光標(biāo),包括了參考光標(biāo)。

    每個光標(biāo)有一個激勵值(坐標(biāo)系 X 軸對應(yīng)的數(shù)值)和響應(yīng)值(坐標(biāo)系 Y 軸對應(yīng)的數(shù)值)。

    光標(biāo)查找功能允許搜索下列條件測量點(diǎn):最大值、最小值

    峰谷值: 峰值(極大值)、谷值(極小值)、光標(biāo)左側(cè)最近的峰谷值、光標(biāo)右側(cè)最近的峰谷值、多重峰谷值

    目標(biāo)值: 距離光標(biāo)最近的目標(biāo)值、光標(biāo)左側(cè)最近的目標(biāo)值、光標(biāo)右側(cè)最近的目標(biāo)值、多重目標(biāo)值

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    I.強(qiáng)大的圖形分析功能

    1) 曲線分選功能

    可以對掃描曲線全部或者部分區(qū)域的測試值進(jìn)行合格/不合格判斷,常用于諧振曲線選如壓電元件等諧振頻率。image.png

    2)等效電路分析測試

    現(xiàn)實(shí)生活中不同類型的器件可以被等效成簡單的三參數(shù)四種模型、四參數(shù)三種模型的阻抗器件,等效電路分析測試功能提供了7種基本的電路模型用于等效這些器件。

    可以通過仿真的等效電路參數(shù)值的阻抗擬合曲線與實(shí)際測量的阻抗曲線進(jìn)行對比,還可以通過您輸入的參數(shù)按照所選擇的模型進(jìn)行擬合。

    等效的電路模型可以直接輸出成TXT文檔方便用戶保存使用

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    3) 晶體振蕩器分析(壓電器件分析)

    對晶體振蕩器進(jìn)行測量以及性能分析,測量計算后獲取晶體的諧振頻率、反諧振頻率、品質(zhì)因數(shù)等重要參數(shù)。

    同時,對于其他壓電器件如壓電陶瓷濾波器、壓電陶瓷陷波器、壓電陶瓷鑒頻器、壓電陶瓷變壓器、大功率超聲波發(fā)生器、換能器(振子)、聲表面波器件、電聲器件等都可以測試如靜態(tài)電容、損耗、諧振頻率、反諧振頻率、機(jī)械耦合系數(shù)等參數(shù)。

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    4) 曲線軌跡對比

    曲線軌跡對比用于對被測件進(jìn)行連續(xù)測量,所有曲線顯示在同一個坐標(biāo)系中。由下列兩種應(yīng)用:

    a) 針對多種不同被測件

    對比不同測量條件下的曲線軌跡

    設(shè)置不同的頻率點(diǎn),計算出所有曲線在該頻率點(diǎn)的測量值

    b) 針對同一個被測件

    對比同一個條件下測量的多次測量結(jié)果重復(fù)性

    設(shè)置不同頻率點(diǎn),計算出所有曲線在該頻率點(diǎn)的測量值。

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    J.介電常數(shù)分析(選件)

    TH2851系列精密阻抗分析儀支持介質(zhì)材料介電常數(shù)、介質(zhì)損耗分析,需選購測試夾具及分析軟件。

    1.配置

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    2.TH26077介質(zhì)材料測試夾具

    TH26077電介質(zhì)材料測試夾具是設(shè)計在TH2851上進(jìn)行準(zhǔn)確的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測量的夾具。通過使用平行板方法測量固態(tài)材料的介電常數(shù),從而消除離散電容。

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    3.介電常數(shù)分析軟件

    該軟件為選件,開通后在TH2851界面直接選擇對應(yīng)的參數(shù)即可,分別可以單測、列表掃描、曲線掃描,下圖為曲線掃描界面。

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    K.磁導(dǎo)率分析

    TH2851支持磁性材料磁導(dǎo)率測試,在主機(jī)的基礎(chǔ)上,需選配測試夾具及磁導(dǎo)率分析軟件,具體配置如下:

    1.配置

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    2.測試夾具

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    3.測試原理


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    4.磁導(dǎo)率分析軟件

    選擇開通磁導(dǎo)率分析軟件之后,儀器便可以在單測、列表掃描、曲線掃描中直接選擇磁導(dǎo)率參數(shù),直接在界面顯示測試結(jié)果。

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    K.標(biāo)配附件

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    L.選配附件

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  • 應(yīng)用

  •  無源元件:

    電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評估和性能分析。

     半導(dǎo)體元件:

    LED驅(qū)動集成電路寄生參數(shù)測試分析;變?nèi)荻O管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析

     其它元件:

    印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等阻抗評估

     介質(zhì)材料:

    塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評估

     磁性材料:

    鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評估

     半導(dǎo)體材料:

    半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性

     液晶單元:

    介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性


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