DB250掃描系統(tǒng)|danbridge DB250|40通道測試系統(tǒng)的產(chǎn)品介紹




DB250掃描系統(tǒng)|danbridge DB250|40通道測試系統(tǒng)的描述

DB250掃描系統(tǒng)設(shè)計(jì)用于方便，快速的電容器質(zhì)量控制
當(dāng)今DB250系統(tǒng)為大多數(shù)薄膜電容器制造商所使用
DB250系統(tǒng)設(shè)計(jì)用于連接徑向和軸向元件
DB250系統(tǒng)具有非常靈活的夾具，定制設(shè)計(jì)的夾具，成本也不至于太高

DB250的典型應(yīng)用
用于金屬電容器質(zhì)量控制
（品管）部門的半自動(dòng)測試
減少電容器樣品測試的工時(shí)
測試小批量電容
用于開發(fā)部門的電容檢測
大型實(shí)驗(yàn)室的電容測量

使用danbridge掃描測試裝置的好處
精度高測量速度快
易于操作
裝件簡單
自動(dòng)報(bào)告生成
測試數(shù)據(jù)可輕松導(dǎo)出
高效的雙掃描模式
設(shè)定保存便捷
可進(jìn)行測量數(shù)據(jù)采集
靈活的夾具

給用戶帶來好處
從一個(gè)類型的電容改變到另一個(gè)只需要幾分鐘的時(shí)間，因?yàn)闇y試設(shè)定可以保存和重復(fù)使用
當(dāng)系統(tǒng)收集測量結(jié)果時(shí)，不會產(chǎn)生由操作者不當(dāng)操作帶來的錯(cuò)誤
當(dāng)開關(guān)門因故障需要打開時(shí)，掃描系統(tǒng)將測試元件自動(dòng)放電，可使操作人員免受高壓傷害


 

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