DB236電容測(cè)試儀|danbridge DB236|danbridge電容測(cè)試儀的產(chǎn)品介紹



DB236電容測(cè)試儀|danbridge DB236|danbridge電容測(cè)試儀的功能簡(jiǎn)介

用于長(zhǎng)測(cè)試電纜的外部電橋模塊
100K—10K—1K—100（120）Hz測(cè)試頻率
電容模式下測(cè)試C, D, ESR & Z @ 100 （120） Hz/100KHz,測(cè)量時(shí)間小于120ms
C精度高達(dá)0.05%及0.005的D值
可分類輸出*，第二頻點(diǎn)的結(jié)果
標(biāo)準(zhǔn)的IEEE，GPIB和RS232的接口

DB236電容測(cè)試儀|danbridge DB236|danbridge電容測(cè)試儀的典型應(yīng)用

用于生產(chǎn)線的電容和電解電容的自動(dòng)測(cè)試
大電容的質(zhì)量控制
高達(dá) mF的電容測(cè)試
在1KHz下檢測(cè)C, ESR, D值同時(shí)在高達(dá)100KHz下測(cè)試阻抗值

現(xiàn)有分選機(jī)上的現(xiàn)代設(shè)備
Danbridge可以提供一些工程技術(shù)用于集成我們的儀器現(xiàn)有機(jī)器上
雙頻測(cè)試
標(biāo)準(zhǔn)雙頻分類輸出
強(qiáng)大的兆歐表也可以集成
所有的儀器都可以通過(guò)IEEE/R232控制
典型應(yīng)用是用于開關(guān)電源的電容生產(chǎn)測(cè)試

典型設(shè)置：雙頻模式下的自動(dòng)IR和C/D值測(cè)試

Ir或漏電流的自動(dòng)測(cè)試,多達(dá)5個(gè)分選
測(cè)試頻率（100Khz，10Khz，1Khz）
典型雙頻帶分選測(cè)試1KHz時(shí)C/D、10KHz時(shí)D
通常應(yīng)用與兩個(gè)頻率下的電容分選設(shè)備（C & D @ 1KHz, D @ 10KHz）
儀器可通過(guò)IEEE（GPIB）設(shè)置或人工通過(guò)鍵盤鍵入



 

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