產品分類
PRODUCT CLASSIFICATION相關文章
RELATED ARTICLES產品中心/ products
簡要描述:阻抗分析儀 快達2.5ms的測試速度、及高達40MΩ的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的測量要求,特別有利于低損耗(D)電容器和高品質因數(Q)電感器的測量。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響,將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴展了十倍。
阻抗分析儀
TH2851系列阻抗分析儀包括以下幾種類型:
簡要參數 | TH2851-015 | TH2851-030 | TH2851-050 | TH2851-080 | TH2851-130 | |
測試頻率 | 10Hz-15MHz | 10Hz-30MHz | 10Hz-50MHz | 10Hz-80MHz | 10Hz-130MHz | |
基本精度 | 0.08% | |||||
AC信號源 | 電壓 | 5mVrms - 2Vrms | ||||
電流 | 200μA - 20mArms | |||||
DC偏置 | 電壓 | 0V - ±40V | ||||
電流 | 0mA—±100mA |
A. 高精度
寬帶自動調零型自動平衡電橋技術的應用,得以在10Hz-130MHz頻率、25mΩ-40MΩ的阻抗范圍內都能達到理想的10%測量精度,其中最高精度達0.08%,遠遠高于射頻反射測量法的阻抗分析儀、網絡分析儀的精度。
B. 高穩(wěn)定性和高一致性
下圖是在速度5、測試頻率1MHz,測量100Ω電阻的曲線,由下圖可見其軌跡噪聲≦0.003%(≦±0.0015Ω)
C. 高速度
D. 10.1寸大屏,四種測量參數,讓細節(jié)一覽無遺
10.1寸觸摸屏、1280*800分辨率,Windows10系統(tǒng)、中英文操作界面,支持鍵盤、鼠標、LAN、VGA/HDMI接口,帶來的是無以倫比的操作便捷性。
大屏幕帶來更多的好處是,可以把所有測試參數及分選參數、分選結果、功能選擇等參數放置在同一屏幕,而且看起來絕不擁擠和雜亂,同時可以顯示四種測量參數,四種測量參數任意可調。屏幕左邊的按鈕可以快捷選擇8套測試參數
E. 增強的列表掃描功能
可以最多設置1601點的列表掃描,每個點可以單獨設置測試頻率、測試電壓、直流偏置等測試條件。
F. 強大的分析圖形界面
最多可以4通道同時顯示,每個通道可以最多顯示4條曲線。通道和曲線各有十四種分屏顯示方法
通道 | 顯示窗口 | 單個窗口可以設置不同掃描條件 每個窗口可以設置4條曲線 |
曲線 | 測量參數 |
G. 分段掃描功能
分段掃描是在一個掃描周期內,設置不同的頻率分段進行掃描,掃描時可設置不同的電平及偏置,掃描結果直接圖形顯示,用于需要快速篩選多個頻率段參數的掃描需求。
如晶體諧振器需要測試標稱諧振/抗諧振頻率以及其他雜散頻率,通過分段掃描功能可在特定頻率范圍內掃描測量,無需掃描不相關頻率
H. 強大的光標分析能力
TH2851系列精密阻抗分析儀具有強大的光標分析能力,可以通過光標實現如下功能:
1. 讀取測量結果的數值(作為絕對數值或者相對于參考點的相對值)
2. 查找曲線上的特定點(光標查找)
3. 分析曲線測量結果,計算統(tǒng)計數據
4. 使用光標值修改掃描范圍以及縱坐標縮放
TH2851 可以在每條曲線上顯示10個光標,包括了參考光標。
每個光標有一個激勵值(坐標系X軸對應的數值)和響應值(坐標系Y軸對應的數值)。
光標查找功能允許搜索下列條件測量點:
最大值、最小值 | |
峰谷值: | 峰值(極大值)、谷值(極小值)、光標左側最近的峰谷值、光標右側最近的峰谷值、多重峰谷值 |
目標值: | 距離光標最近的目標值、光標左側最近的目標值、光標右側最近的目標值、多重目標值 |
I. 強大的圖形分析功能
1) 曲線分選功能
可以對掃描曲線全部或者部分區(qū)域的測試值進行合格/不合格判斷,常用于諧振曲線篩選如壓電元件等諧振頻率。
2) 等效電路分析測試
現實生活中不同類型的器件可以被等效成簡單的三參數四種模型、四參數三種模型的阻抗器件,等效電路分析測試功能提供了7種基本的電路模型用于等效 這些器件。
可以通過仿真的等效電路參數值的阻抗擬合曲線與實際測量的阻抗曲線進行對比,還可以通過您輸入的參數按照所選擇的模型進行擬合。
等效的電路模型可以直接輸出成TXT文檔方便用戶保存使用
3) 晶體振蕩器分析(壓電器件分析)
對晶體振蕩器進行測量以及性能分析,測量計算后獲取晶體的諧振頻率、反諧振頻率、品質因數等重要參數。
同時,對于其他壓電器件如壓電陶瓷濾波器、壓電陶瓷陷波器、壓電陶瓷鑒頻器、壓電陶瓷變壓器、大功率超聲波發(fā)生器、換能器(振子)、聲表面波器件、電聲器件等都可以測試如靜態(tài)電容、損耗、諧振頻率、反諧振頻率、機械耦合系數等參數。
4) 曲線軌跡對比
曲線軌跡對比用于對被測件進行連續(xù)測量,所有曲線顯示在同一個坐標系中。由下列兩種應用:
對比不同測量條件下的曲線軌跡
設置不同的頻率點,計算出所有曲線在該頻率點的測量值
b) 針對同一個被測件
對比同一個條件下測量的多次測量結果重復性
設置不同頻率點,計算出所有曲線在該頻率點的測量值
J. 介電常數分析(選件)
TH2851系列精密阻抗分析儀支持介質材料介電常數、介質損耗分析,需選購測試夾具及分析軟件。
1. 配置
序號 | 型號 | 名稱 | 必選項 |
1 | TH2851_*** | 阻抗分析儀主機 | R |
2 | TH26077 | 介質材料測試夾具 | R |
3 | TH2851 | 介電常數測試軟件 | R |
2. TH26077介質材料測試夾具
TH26077電介質材料測試夾具是設計在TH2851上進行準確的介電常數及介質損耗測量的夾具。通過使用平行板方法測量固態(tài)材料的介電常數,從而消除離散電容。
1) 外形結構
2) 基本參數
測試頻率 | DC-30MHz | ||
測量參數 | 電容(C)、耗損因數(D)、介電常數(εr', εr'') | ||
測試電極 | 電極種類 | 被測材料直徑 | 被測材料厚度 |
屏蔽電極A1 | 40mm - 56mm | ≤10mm | |
屏蔽電極A2 | 10mm - 56mm | ≤10mm | |
測試原理 | 平行板測量法 | ||
清零 | 開路、短路 |
3) 測試原理
4) 介電常數公式
3. 介電常數分析軟件
該軟件為選件,開通后在TH2851界面直接選擇對應的參數即可,分別可以單測、列表掃描、曲線掃描,下圖為曲線掃描界面。
K. 磁導率分析
TH2851支持磁性材料磁導率測試,在主機的基礎上,需選配測試夾具及磁導率分析軟件,具體配置如下:
1. 配置
序號 | 型號 | 名稱 | 必選項 |
1 | TH2851 | 阻抗分析儀主機 | R |
2 | TH26086 | 測試夾具底座 | R |
3 | TH26088 | 磁導率測試夾具 | R |
4 | TH2851磁導率測試軟件 | R | |
5 | TH26086-CAL | 夾具校準套件 | R |
2. 測試夾具
1)TH26086轉接底座
用于將4端對轉換成N型7mm底座,適配其他測試夾具如TH26088磁導率測試夾具。
TH26086為必選項,若未選購,TH26088將無法正確測量。
技術參數
測試頻率 | DC - 130MHz |
最高電壓 | ±42V 峰值(AC+DC) |
工作溫度 | 0°C - 40°C |
2)TH26088磁導率測試夾具
TH26088可精確測量環(huán)形磁性材料的磁導率。由于該夾具的結構是環(huán)形線圈繞一圈(無漏磁),因此不需要繞環(huán)形線圈的導線,而且允許廣泛的頻率覆蓋。 它配有一個小型和一個大型夾具,適應各種尺寸,是測量磁性材料的理想結構。
技術參數
測試頻率 | 1kHz - 1GHz | ||
樣本尺寸 | 高度h | 內徑范圍b(直徑) | 外徑范圍c(直徑) |
小型部件用 | ≤ 3 mm | ≥ 3.1 mm | ≤ 8 mm |
大型部件用 | ≤ 8.5 mm | ≥ 5 mm | ≤ 20 mm |
3. 測試原理
1) 磁導率基本概念
2) 有效磁導率
采用電感測量法測量,在環(huán)形磁芯的磁芯上纏繞導線,并放置在一個密閉的圓柱形空間內(TH26088夾具),通過阻抗分析儀測量導線兩端的電感(自感),根據測試電感量及下列公式推導出有效磁導率。
3) 相對導磁率
4. 磁導率分析軟件(選件)
選擇開通磁導率分析軟件之后,儀器便可以在單測、列表掃描、曲線掃描中直接選擇磁導率參數,直接在界面顯示測試結果
L. 標配附件
M. 選配附件
應用
■ 無源元件:
電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網絡元件等的阻抗參數評估和性能分析。
■ 半導體元件:
LED驅動集成電路寄生參數測試分析;變容二極管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數分析
■ 其它元件:
印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等阻抗評估
■ 介質材料:
塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估
■ 磁性材料:
鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估
■ 半導體材料:
半導體材料的介電常數、導電率和C-V特性
■ 液晶單元:
介電常數、彈性常數等C-V特性