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近紅外光譜透反射性能測量系統(tǒng)

  • 產品型號:NSTAR-200
  • 更新時間:2024-07-18

簡要描述:NSTAR-200 近紅外光譜透反射性能測量系統(tǒng)
集透射和反射測量于一體典型應用場景
NSTAR-200近紅外光譜透反射測量系統(tǒng)集反射和透射測量功能于一體,用于測量材料的光譜反射率/光譜透過率,測量波段范圍覆蓋780-1600nm。系統(tǒng)應用遠方公司多項磚利技術,可快速精確測量近紅外寬波段范圍內光譜透反射率,系統(tǒng)測量靈敏度高,穩(wěn)定性、復現(xiàn)性好,雜散光小,可滿足較低透反射率的深色

產品詳情
NSTAR-200 近紅外光譜透反射性能測量系統(tǒng)
集透射和反射測量于一體,                                                                                                                                                                                        波段覆蓋780-1600nm
典型應用場景
NSTAR-200近紅外光譜透反射測量系統(tǒng)集反射和透射測量功能于一體,用于測量材料的光譜反射率/光譜透過率,測量波段范圍覆蓋780-1600nm。系統(tǒng)應用遠方公司多項磚利技術,可快速精確測量近紅外寬波段范圍內光譜透反射率,系統(tǒng)測量靈敏度高,穩(wěn)定性、復現(xiàn)性好,雜散光小,可滿足較低透反射率的深色樣品測量,主要用于各類材料研發(fā)實驗室。
近紅外光譜透反射性能測量系統(tǒng)
主要特點
1、兼容反射和透射測量:反射測量d/8,SCI和SCE可選;透射測量為d/0幾何。
近紅外光譜透反射性能測量系統(tǒng)
 2、配高性能光譜反射率板,溯源性好。
3、穩(wěn)定性好,測量精度高,滿足較低透反射率的深色樣品測量。
主要技術指標
近紅外光譜透反射性能測量系統(tǒng)


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